JTAG
Un Netgear DG632 con un conector Berg de 8 pines como JTAG en la posición "5".
JTAG, acrónimo de Joint Test Action Group, es el nombre común utilizado para la norma IEEE 1149.1 titulada Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture para test access ports utilizada para comprobar PCBs utilizando escaneo de límites.
JTAG se estandarizó en 1990 como la norma IEEE 1149.1-1990. En 1994 se agregó un suplemento que contiene una descripción del boundary scan description language
(BSDL). Desde entonces, esta norma fue adoptada por las compañías
electrónicas de todo el mundo. Actualmente, Boundary-scan y JTAG son
sinónimos.
Diseñado originalmente para circuitos impresos, actualmente es
utilizado para la prueba de submódulos de circuitos integrados, y es muy
útil también como mecanismo para depuración de aplicaciones
embebidas, puesto que provee una puerta trasera para acceder al
sistema. Cuando se utiliza como herramienta de depuración, un emulador
en circuito que usa JTAG como mecanismo de transporte permite al
programador acceder al módulo de depuración que se encuentra integrado
en la CPU. El módulo de depuración permite al programador corregir
errores de código y de lógica en sus sistemas.
Características eléctricas
Una
interfaz JTAG es una interfaz especial de cuatro o cinco pines
agregadas a un chip, diseñada de tal manera que varios chips en una
tarjeta puedan tener sus líneas JTAG conectadas en daisy chain, de manera tal que una sonda de testeo JTAG necesita conectarse a un solo "puerto JTAG" para acceder a todos los chips en un circuito impreso. Los pines del conector son
- TDI (Entrada de Datos de Testeo)
- TDO (Salida de Datos de Testeo)
- TCK (Reloj de Testeo)
- TMS (Selector de Modo de Testeo)
- TRST (Reset de Testeo) es opcional.
Ya que posee una sola línea de datos, el protocolo es necesariamente serial, como el Serial Peripheral Interface.
La entrada de la señal de reloj es por el pin TCK. La configuración del
dispositivo se realiza manipulando una máquina de estados de un bit
empleando el pin TMS. Un bit de datos es cargado en TDI y otro sacado en
TDO por cada pulso de reloj de la señal TCK. Se pueden cargar
diferentes modo de instrucción como leer el ID del chip, muestrear el
valor de pines de entrada/salida, manejar pines de salida, manipular
funciones del chip, o funciones de bypass que unen el pin TDI con TDO
para lógicamente unir cadenas de varios chips (chips en cascada). La
frecuencia de trabajo de la señal de reloj del pin TCK varía en función
de cada chip, pero típicamente está en el rango de 10-100 MHz
(10-100ns/bit).
Cuando se hace la operación de boundary scan en circuitos
integrados, las señales manipuladas están entre diferentes bloques
funcionales del chip, más que entre diferentes chips.
El pin TRST es una señal opcional bajo-activa para reseteo o
reinicio de la prueba lógica (por lo general asíncrona, pero que a veces
está sincronizada con el reloj, dependiendo del chip). Si no se dispone
de dicho pin, la prueba lógica puede reiniciarse mediante una
instrucción reset.
Existen productos de consumo que tienen un puerto JTAG integrado, por lo que las conexiones están a menudo disponibles en la PCB como parte de la fase de prototipado del producto. Estas conexiones pueden proporcionar una sencilla forma de realizar ingeniería inversa.
Fuente: https://es.wikipedia.org/wiki/JTAG
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